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高光譜近感技術(shù)在葡萄病害檢測中的應(yīng)用
發(fā)布時(shí)間: 2019-01-09 點(diǎn)擊次數(shù): 1860次葡萄栽培(PV)技術(shù)指在葡萄園內(nèi)對(duì)葡萄進(jìn)行監(jiān)控與現(xiàn)場管理的一系列方法,它在葡萄生產(chǎn)的數(shù)量和質(zhì)量上,均涉及到單一栽培的空間變異監(jiān)測和管理。PV非常重視作物監(jiān)測,它通過直接在現(xiàn)場進(jìn)行觀測,收集有關(guān)作物物候期、營養(yǎng)和健康狀況以及預(yù)期產(chǎn)量等的信息。特別是對(duì)不同類型應(yīng)激的診斷,包括一系列影響作物生產(chǎn)力的因素,和綜合蟲害管理戰(zhàn)略(IPMS)的采用方面,PV正變得越來越重要。
葡萄園監(jiān)測系統(tǒng)的開發(fā)主要涉及遙感技術(shù)(RS),利用衛(wèi)星獲取葡萄園多光譜圖像,但在實(shí)際操作中,由于技術(shù)、資金、天氣等的局限,無法獲得關(guān)于單個(gè)葡萄園內(nèi)可變性的信息。采用一種基于高光譜成像(HSI)的方法,即利用一種能夠檢測較大植物光譜數(shù)據(jù)集的設(shè)備,可以幫助解決植物病害檢測的問題,同時(shí)可以更好地確定它們?cè)谔镩g的存在和分布。
意大利科學(xué)家S. Serranti在一個(gè)試驗(yàn)中使用兩款Specim高光譜成像設(shè)備:Specim Imspector V10 和Specim Spectral Camera N17,利用偏小二乘判別分析(PLS-DA)模型對(duì)健康葉片和不同程度感染霜霉病的葡萄進(jìn)行了區(qū)分,以識(shí)別葡萄葉片中由于霜霉病病理的存在而導(dǎo)致的不同程度的癥狀。
圖:在VIS-NIR (400-1000nm)范圍內(nèi)進(jìn)行不同的類選擇。a:健康組織,b:霜霉病感染組織,c:壞死組織
圖:在健康、感染和壞死葉片的VIS-NIR (400-1000 nm)范圍內(nèi)的預(yù)處理光譜
光譜的預(yù)處理(Fig.5)突出了所選葉之間的差異。特別是健康和受感染的葉子??梢钥吹剑?dāng)其中一條曲線光譜區(qū)間內(nèi)有一個(gè)谷值時(shí),另一條曲線在光譜區(qū)間內(nèi)有一個(gè)峰值,反之亦然。
圖:在NIR(1000-1700 nm)范圍內(nèi)進(jìn)行等級(jí)選擇。a:健康組織,b:霜霉病感染組織,c:壞死組織。
Fig.2給出了在VIS-NIR范圍(400-1000 nm)獲得的每個(gè)參考類別的葉子(即健康的、受感染的和壞死的)所選擇的區(qū)域的示例, NIR范圍(1000-1700 nm)所選擇的區(qū)域如Fig.3所示。
圖:健康、受感染和壞死葉片的NIR(1000-1700 nm)平均預(yù)處理光譜
光譜預(yù)處理未突出健康葉片光譜和受感染葉片光譜的可能差異,但是壞死葉片光譜與其他兩類葉片光譜的區(qū)別較大(Fig.7)。
圖:兩種分類模型區(qū)分葡萄葉片健康狀況
結(jié)果表明在400 ~ 1000 nm之間的VIS-NIR光譜區(qū)間,是適合于對(duì)健康、霜霉病感染和壞死葉片進(jìn)行鑒別的光譜范圍。以此建立分類模型可以作為診斷早期葡萄園病的有力工具。采用此技術(shù)來識(shí)別/區(qū)分霜霉病感染葡萄葉還有一個(gè)很大的優(yōu)勢(shì),即Specim高光譜成像設(shè)備操作相對(duì)靈活簡單,針對(duì)不同方案在不同環(huán)境均可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定試驗(yàn)。
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