12月21-22日，由中國地質(zhì)大學（北京）主辦的2019年第三屆礦產(chǎn)勘查學科交叉前沿發(fā)展研討會在中國地質(zhì)大學（北京）會議中心盛大開幕，來自國內(nèi)地質(zhì)礦產(chǎn)領(lǐng)域高校、科研院所、地質(zhì)調(diào)查局、礦業(yè)集團公司等單位的院士團隊、專家學者參加了本次會議。圍繞當前深部找礦的理論方法與實踐前沿（數(shù)學地質(zhì)、大數(shù)據(jù)挖掘、三維集成建模）、數(shù)字礦山與智能礦山建設前沿、教育部“地質(zhì)學（理工科）虛擬仿真”建設等問題進行研討交流。

    易科泰生態(tài)技術(shù)公司受邀參與本次大會，會上就芯體掃描分析技術(shù)、光譜成像分析技術(shù)、無人機遙感技術(shù)、元素分析技術(shù)等在數(shù)字礦山、地質(zhì)勘查、礦產(chǎn)勘測領(lǐng)域的應用和與會專家學者做了深入探討，并在現(xiàn)場通過樣品實測分析展示了新的高光譜成像測量分析技術(shù)，受到廣大學者的高度評價。

圖1 現(xiàn)場展示與交流

    通過現(xiàn)場分析及效果演示，使各位專家學者直觀了解高光譜成像的特點，以及如何通過光譜比對識別礦物，如下右圖中紅色所示為蝕變作用后的產(chǎn)物，經(jīng)對比發(fā)現(xiàn)，該產(chǎn)物與伊利石的光譜特征極為相似，可據(jù)此進一步研究其形成過程及詳細化學組成。

圖2 樣品測試分析結(jié)果

    本次會議的圓滿召開，使全體參會人員充分了解了地礦勘查創(chuàng)新思維及光譜成像技術(shù)應用的性質(zhì)、特點。同時也將有力推動廣大科研單位、地礦企業(yè)與易科泰公司建立“地質(zhì)-礦產(chǎn)-勘查”三位一體、“產(chǎn)學研用”一體、“科研、教學、礦企”的協(xié)作共贏關(guān)系，共同為地礦勘查科研級應用領(lǐng)域發(fā)揮新的更大貢獻。

    北京易科泰生態(tài)技術(shù)公司、易科泰光譜成像與無人機遙感研究中心（西安）作為專業(yè)的光譜成像與地質(zhì)地球科學研究技術(shù)供應商，致力于提供的高光譜成像分析技術(shù)、元素分析掃描技術(shù)、GeoDrone ®低空遙感技術(shù)，為地質(zhì)勘查與礦山數(shù)字化提供強大的合作研究平臺和多方位解決方案。

• SisuCHEMA高光譜成像儀

    SisuCHEMA是一款性能*的高光譜成像分析工作站。采用推掃成像技術(shù)，整合了VNIR和SWIR高分辨率光譜成像技術(shù)、自動掃描技術(shù)及光物質(zhì)分析技術(shù)（軟件），可對各種巖礦材料進行高光譜掃描成像分析，樣品大可達200x300x45mm，大分辨率可達30微米。

• SisuSCS/ROCK樣芯掃描高光譜成像系統(tǒng)

    SisuSCS為單樣芯高光譜掃描分析系統(tǒng)，（VNIR可見光近紅外波段或SWIR短波紅外波段），芯體大小可達130x1500x75mm。SisuROCK則代表了世界非常先進的高通量多樣芯高光譜掃描分析系統(tǒng)，集高分辨率可見光、VISIR（可見光近紅外波段）、SWIR（短波紅外）、MWIR（中波紅外）及LWIR（長波紅外）高光譜成像分析技術(shù)，高通量、非損傷巖礦分析工作站，可對巖礦樣芯或其它巖礦材料高通量快速檢測分析，每天可掃描分析1200m的巖礦樣芯。

• SpectraScan光譜成像掃描系統(tǒng)

    SpectraScan系列產(chǎn)品是易科泰自主設計研發(fā)的高光譜掃描成像平臺，可搭載Specim全線高光譜成像系統(tǒng)，還可選配高分辨率RGB成像、多光譜成像、紅外熱成像等，實現(xiàn)多相機同步成像、高精度移動掃描控制、光源控制、遠程無線控制等功能于一體的光譜成像平臺，用于實驗室、野外原位光譜成像分析及近地機遙感等，是礦山數(shù)字化、巖礦光譜分析、礦山生態(tài)修復等的重要應用工作站。

• GeoDrone ®無人機遙感技術(shù)

    易科泰自主研發(fā)設計的GeoDrone ® 科研級無人機產(chǎn)品，為科學研究量身定做的專業(yè)無人機遙感平臺，具備續(xù)航時間長、通信距離遠、載荷大、載荷多等特點，可靈活搭載高清晰RGB鏡頭、多光譜、高光譜、紅外熱成像、LiDAR激光雷達等專業(yè)傳感器，為礦產(chǎn)勘查測繪及低空地質(zhì)遙感探測應用領(lǐng)域提供全面解決方案。

• CoreScanner樣芯密度與元素掃描分析技術(shù)

    樣芯CT掃描成像、可見光（RGB）成像、μXRF元素掃描分析、磁化率掃描分析，用于地質(zhì)巖礦樣芯、沉積樣芯多功能掃描成像分析。

• XRF Scanner巖礦樣芯元素掃描分析技術(shù)

    采用XRF、數(shù)字X-射線密度成像和高分辨率數(shù)字光學成像技術(shù)，非破壞性測量，獲得樣品高分辨率的數(shù)碼圖像，然后利用系統(tǒng)軟件對所得圖像和元素信息進行分析，可對樣芯一次性掃描分析從 Na 到 U 的所有元素及 REE（稀土元素） 濃度及分布，分為 SC 單樣芯掃描分析系統(tǒng)（每次裝載一個樣芯）和 MC 多樣芯（每次可裝載多個樣芯進行分析）掃描分析系統(tǒng)兩個版本。

• LIBS元素分析技術(shù)

    LIBS元素分析技術(shù)有效解決了傳統(tǒng)地學分析儀器不能進行原位測量、非接觸式測量或者難以檢測膠態(tài)組分中元素的弊端，滿足實驗需求并且具有應用前景。此外，無須樣品預處理、實驗方法快速簡便，可以同時檢測元素周期表中所有元素，靈敏度高，可以對元素的樣品表面空間分布繪圖等特點，都是傳統(tǒng)方法*的優(yōu)勢。